椭圆偏振(椭偏仪)

随着微电子及光学技术的发展，纳米级薄膜的厚度及光学常数测量变得愈发重要。椭圆偏振技术作为一种非破坏性的高精度测量手段，广泛应用于半导体、光伏及光学镀膜领域。汇策晟安检测提供专业的椭圆偏振测试服务，为客户揭示薄膜的微观光学特性。

服务内容

利用偏振光反射原理，测量单层或多层薄膜的厚度、折射率及消光系数。

套餐特点

采用光谱椭偏仪，覆盖宽波长范围，提高拟合精度。

支持透明及半透明薄膜的测试，具备多层膜结构解析能力。

测试标准

遵循相关行业标准及客户规范：

ASTM E1541、ISO 19221

半导体行业 SEMI 标准

注：具体模型建立可根据客户样品结构定制。

服务范围

服务于半导体晶圆、光学镜片、太阳能电池、显示面板及防腐涂层行业。

检测项目

测试周期

5-7 个工作日。

相关资质

具备 CNAS 及 CMA 双重认证资质。

我们的优势

汇策晟安检测拥有先进的光谱椭偏设备，可应对复杂多层膜结构；

技术人员精通光学建模，能准确解析未知材料的光学常数；

提供无损测试，样品测试后可直接返回产线使用。

薄膜参数的精确控制是提升器件性能的前提。椭圆偏振测试为客户提供了一种无损且高精度的检测方案。汇策晟安检测愿以专业的技术实力，助力客户在精密制造领域取得突破。