功放管 低噪放动静态老炼等可靠性测试

服务内容

功率放大管（PA）、低噪声放大器（LNA）、射频模组等静态/动态老炼验证。

服务范围

射频功率放大管（PA）、低噪声放大器（LNA）、射频模组的高低温测试、静态老炼、动态老炼、振动、机械冲击、高温储存、高温工作寿命、温度循环、湿度偏置等试验。

检测标准

GJB 548C-2001；GJB 2650-1996；GJB 360B-2009；GJB 8125-2013；GJB 5847-2006；

检测项目

试验类型 试验项目

环境应力试验 高温静态试验、高温贮存、温度循环、高加速应力、高温高湿试验等

寿命老炼 高温动态寿命试验

测试周期

根据相关标准或测试大纲定制

相关资质

实验室已获得CNAS认可，具备按照GJB系列标准开展功放管与低噪放可靠性测试的资质能力，确保测试过程的规范性与数据的权威性。

服务背景

近些年来，无论是国防军事工业，还是新能源汽车、5G通信、健康医疗等民用领域都呈现爆发式发展，对射频微波产品的需求亦急剧增加，相关模组及元器件的可靠性受到了行业的高度关注。作为射频前端核心器件的功放管与低噪声放大器，必须经过严格的环境应力与寿命试验，以确保其在严苛应用场景下具备长期稳定运行的可靠性。

我们的优势

具备低噪声放⼤器、功率放⼤器等微波芯片的器件级、板级验证。

具备⾃主开发测试夹具（socket）的设计、定制、制造能⼒，覆盖各类封装。

具备微波芯⽚车规全套AEC-Q试验能力。

常见问题

Q：对于PA、LNA等微波器件的静态寿命试验与动态寿命试验如何选择夹具？

A：微波器件中的PA与LNA与常规的电子元器件是有很大的区别，在加电过程中，我们需要给PA与LNA专门仿真定做50Ω与样品匹配的老炼夹具；并且夹具中的微带PCB与散热底座是采用专门的微组装烧结工艺，防止上电后/做试验过程中因失配而出现自激而导致试验失败或者烧坏样品。

Q：如何保证大批量PA、LNA动态老炼试验输出功率一致性？

A：对于PA、LNA的动态老炼试验需要加载器件额定工作电压，还需要驱动功放给样品输入合适大小的射频信号，同时需保证样品输出功率达到额定功率进行老炼。汇策集团晟安检测现有设备科提供64工位老炼，单一工位带有独立的驱动功放；且每路功放带有独立的ATT可调增益；每个工位上的被测样品的输入输出都有功率检波，可实时监控样品的输出功率，并根据实际情况调节ATT，保证所有被测样品所承受的电应力（输出功率）的一致性。