芯片级EOS测试

服务内容

Surge（浪涌测试），可调整方波脉冲

服务范围

集成电路（IC），分立器件，模块，晶圆，系统级产品

检测标准

IEC61000-4-5:2017

GB/T17626.5-2019

检测项目

相关资质

实验室已获得专业的检测资质认可（CNAS），质量管理体系完善，确保所有EOS测试数据的准确性、可重复性与权威性。出具的检测报告在行业内具有高度公信力，可为客户的可靠性设计提供有力支撑。

测试周期

1~3个工作日

服务背景

芯片级EOS测试通过模拟极端电气条件，确保芯片从设计到量产的每个环节均能满足可靠性要求。它不仅关乎技术合规性，更是降低风险、提升市场竞争力的必要手段。未通过测试的芯片可能在关键应用中引发灾难性损伤。

我们的优势

汇策集团晟安检测EOS测试拥有资深技术团队，依托先进技术平台，通过多场景模拟（如电源浪涌、热插拔等），精准识别芯片设计缺陷与工艺薄弱点，提供从消费电子到车规级芯片的全流程定制化服务，助力企业缩短研发周期，提升产品可靠性与市场竞争力。