球差校正透射电镜(AC-TEM)代表了电子显微技术的最高水平,能够实现原子级分辨率成像。汇策晟安检测提供顶级的 AC-TEM 测试服务,助力客户突破科研瓶颈。
服务内容
提供原子级分辨成像、单原子检测、精细电子结构分析及轻元素成像。
套餐特点
配备双球差校正器,同时优化成像与扫描模式,分辨率优于 0.08nm。
测试标准
- ISO 16700 电子显微镜图像放大倍率校准
- ASTM E1508 电子束仪器定量分析指南
- GB/T 20042 纳米材料透射电镜分析方法
- ISO 13067 微束分析晶粒尺寸测定
- 根据客户要求标准进行检测
相关资质
实验室通过 CNAS 认可,设备性能定期验证,确保数据权威性。
服务范围
适用于量子材料、催化剂单原子研究、半导体界面分析及新型纳米材料开发。
检测项目
原子柱成像、界面结构分析、缺陷原子级观察、元素价态分析、三维原子探针配合。
测试周期
7-10 个工作日
球差电镜技术为原子尺度研究提供了极致手段。汇策晟安检测凭借顶级设备与专业技术,帮助客户探索材料科学的最前沿,实现技术突破。
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