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服务范围
技术评估：专业技术支持进行客户需求确认
测试方案开发：提供针对性方案并根据客户需求进行优化
测试硬件开发：选择合适的测试平台并定制专门的socket&kit及loadboard
程序开发与调试：三温环境下ATE程序开发与调试
老炼能力开发：定制夹具、原理图设计、layout、制板及调试
筛选测试：器件测试、出具报告
检测标准
●GJB 597B-2012 半导体集成电路通用规范
●GJB548C-2021微电子器件试验方法和程序
● 行业规范：MIL、IEEE、JEDEC等
● 客制标准：产品⼿册、详细规范、测试方案
检测项目
序号 项目 参考标准
1 外部目检 GJB548C-2021方法2016
2 粒子碰撞噪声检测 GJB548C-2021方法2020.2
3 密封 GJB548C-2021方法1014.3
4 温度循环 GJB548C-2021方法1010.1
5 老炼 GJB548C-2021方法1015.1
6 三温测试 产品手册或详细规范
7 X射线照相检查 GJB548C-2021方法2012.2
8 超声扫描检查 GJB548C-2021方法2030.1
全部检测项目列出（包含上方套餐项目）
相关资质
实验室已获得专业的检测资质认可（CNAS），质量管理体系完善，确保所有筛选测试数据的准确性、可重复性与权威性。出具的检测报告在行业内具有高度公信力，可为客户的元器件质量保证提供有力支撑。
测试周期
常规10个工作日
服务背景
集成电路的一次筛选是芯片生产销售中的关键质量控制环节，主要用于剔除存在缺陷或性能不达标的器件。随着集成电路技术向更高集成度和更小制程发展，一次筛选的复杂性和精度要求显著提升。尤其是在航天、航空、军用及高可靠性工业应用中，元器件在上机使用前的“零缺陷”要求，使得一次筛选成为保障电子系统长期稳定运行、降低整机失效率不可或缺的关键工序。
我们的优势
实验室多年的项目服务积累了丰富的技术经验，目前拥有模拟测试系统（STS8200、STS8300等）、三温机械手、三温热流罩、集成电路老化系统等专业筛选设备2000余台（套），同时配备了专门的筛选技术开发团队，可“一站式”解决客户需求，能做到对客户的需求快速响应，提供科学、公正、准确、快捷、周到的服务。
